Při dopadu rentgenového záření na hmotu se elektrony v obalech atomů rozkmitají s frekvencí odpovídající vlnové délce záření. Kmitající elektrony se stávají zdrojem sekundárního rentgenového záření, které se od nich šíří všemi směry. Důsledkem interference těchto parciálních vlnění je za jistých okolností zesílení rozptýleného rentgenového záření v určitých diskrétních směrech a zrušení v ostatních. Tento jev se nazývá difrakce, paprsky zesíleného záření se označují termínem reflexe. Metody rentgenové difrakční analýzy se používají především při studiu struktury materiálů.

The scattering of x-rays by matter, especially crystals, with accompanying variation in intensity due to interference effects. Analysis of the crystal structure of materials is performed by passing x-rays through them and registering the diffraction image of the rays (CRYSTALLOGRAPHY, X-RAY). (From McGraw-Hill Dictionary of Scientific and Technical Terms, 4th ed)

Anotace

application to study of crystal structure = CRYSTALLOGRAPHY, X-RAY; for SAXS (small angle X-ray scattering) coordinate with SCATTERING, SMALL ANGLE

DUI

D014961 MeSH Prohlížeč

CUI

M0023036

Historická pozn.

65(63)

Veřejná pozn.

65