mikroskopie atomárních sil [Microscopy, Atomic Force]

tematický
117
Termíny

Atomic Force Microscopy
Force Microscopy
Scanning Force Microscopy

Perzistentní odkaz   https://www.medvik.cz/link/D018625
Definice

A type of scanning probe microscopy in which a probe systematically rides across the surface of a sample being scanned in a raster pattern. The vertical position is recorded as a spring attached to the probe rises and falls in response to peaks and valleys on the surface. These deflections produce a topographic map of the sample.

DUI
D018625 MeSH Prohlížeč
CUI
M0027912
Předchozí užití
Microscopy (1988-1994); Microscopy, Scanning Tunneling (1988-1994)
Historická pozn.
95
Veřejná pozn.
95

E Analytické, diagnostické a terapeutické techniky a přístroje
E01 diagnóza 1 790
E01.370.350.515 mikroskopie 1 098
E01.370.350.515.666 mikroskopie skenující sondou 4
E01.370.350.515.666.400 mikroskopie atomárních sil 117
E01.370.350.515.666.500 rastrovací tunelová mikroskopie 4
E05.595 mikroskopie 1 098
E05.595.666.400 mikroskopie atomárních sil 117