Mikroskopie využívající elektronového paprsku místo světla, aby se zobrazil vzorek, což umožňuje mnohem vyšší míru zvětšení. Interakce elektronů se vzorky jsou využity k získání informací o jemné struktuře daného vzorku. Transmisní elektronová mikroskopie zobrazuje reakce elektronů, které procházejí vzorkem. Při skenovací elektronové mikroskopii se obraz získává z reakce vznikající nad vzorkem, jíž způsobuje elektronový paprsek dopadající v abnormálním úhlu na tento vzorek.

Microscopy using an electron beam, instead of light, to visualize the sample, thereby allowing much greater magnification. The interactions of ELECTRONS with specimens are used to provide information about the fine structure of that specimen. In TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY the reactions of the electrons that are transmitted through the specimen are imaged. In SCANNING ELECTRON MICROSCOPY an electron beam falls at a non-normal angle on the specimen and the image is derived from the reactions occurring above the plane of the specimen.

Anotace

general or unspecified; prefer specifics

DUI

D008854 MeSH Prohlížeč

CUI

M0013809