Rozpoznání a měření prvků a jejich umístění na základě toho, že rentgenové paprsky vydávané prvkem excitovaným elektronovým paprskem mají vlnovou délku charakteristickou pro daný prvek a intenzitu odpovídající jeho koncentraci. Provádí se za pomoci elektronového mikroskopu vybaveného rentgenovým spektrometrem, ve skenovacím či přenosovém modu.

Identification and measurement of ELEMENTS and their location based on the fact that X-RAYS emitted by an element excited by an electron beam have a wavelength characteristic of that element and an intensity related to its concentration. It is performed with an electron microscope fitted with an x-ray spectrometer, in scanning or transmission mode.

DUI

D004577 MeSH Prohlížeč

CUI

M0007193

Předchozí užití

Electrons (1966); Spectrum Analysis (1966)

Historická pozn.

70(67)

Veřejná pozn.

70