Mikroskopie, při které je předmět zkoumám přímo prostřednictvím elektronového paprsku, který vzorek skenuje bod po bodu. Obraz je vytvořen detekcí produktů interakcí vzorku, které se zobrazují nad vzorkem, například zpětně rozptýlené elektrony. Přestože skenovací elektronová mikroskopie transmisní rovněž skenuje vzorek bod po bodu elektronovým paprskem, obraz je vytvořen detekcí elektronů (nebo produkty jejich interakce), takže se jedná o formu transmisní elektronové mikroskopie.

Microscopy in which the object is examined directly by an electron beam scanning the specimen point-by-point. The image is constructed by detecting the products of specimen interactions that are projected above the plane of the sample, such as backscattered electrons. Although SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY also scans the specimen point by point with the electron beam, the image is constructed by detecting the electrons, or their interaction products that are transmitted through the sample plane, so that is a form of TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY.

Anotace

do not confuse with MICROSCOPY, ELECTRON, SCANNING TRANSMISSION or STEM

DUI

D008855 MeSH Prohlížeč

CUI

M0013811

Předchozí užití

Microscopy, Electron (1966-1968)

Historická pozn.

72(69)

Veřejná pozn.

72