Quantitative-phase-contrast imaging of a two-level surface described as a 2D linear filtering process
Jazyk angličtina Země Spojené státy americké Médium print
Typ dokumentu časopisecké články, práce podpořená grantem
PubMed
20940953
DOI
10.1364/oe.18.020585
PII: 205693
Knihovny.cz E-zdroje
- MeSH
- design vybavení MeSH
- Fourierova analýza MeSH
- holografie metody MeSH
- interferometrie metody MeSH
- křemík chemie MeSH
- krystalizace MeSH
- mikroskopie atomárních sil metody MeSH
- mikroskopie elektronová rastrovací metody MeSH
- mikroskopie fázově kontrastní metody MeSH
- počítačové zpracování obrazu MeSH
- povrchové vlastnosti MeSH
- statistické modely MeSH
- světlo MeSH
- zobrazování trojrozměrné metody MeSH
- Publikační typ
- časopisecké články MeSH
- práce podpořená grantem MeSH
- Názvy látek
- křemík MeSH
The paper deals with quantitative phase imaging of two-height-level surface reliefs. The imaging is considered to be a linear system and, consequently, the Fourier transform of the image is the product of the Fourier transform of a 2D function characterizing the surface and a specific 2D coherent transfer function. The Fourier transform of functions specifying periodic surface reliefs is factorized into two functions similar to lattice and structure amplitudes in crystal structure analysis. The approach to the imaging process described in the paper enables us to examine the dependence of the phase image on the surface geometry. Theoretical results are verified experimentally by means of a digital holographic microscope.
Citace poskytuje Crossref.org
Automated alignment method for coherence-controlled holographic microscope